應(yīng)對表面瑕疵檢測中的光照變化，可以采取多種策略，包括利用機器學(xué)習(xí)和深度學(xué)習(xí)技術(shù)，以及采用特定的圖像處理方法。

1. 利用機器學(xué)習(xí)和深度學(xué)習(xí)技術(shù)：

機器學(xué)習(xí)和深度學(xué)習(xí)，特別是卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(CNN)，能夠從大量數(shù)據(jù)中學(xué)習(xí)并自動調(diào)整模型參數(shù)，以適應(yīng)不同的光照條件和復(fù)雜的表面瑕疵形態(tài)。這些技術(shù)通過層層學(xué)習(xí)特征和建立復(fù)雜的映射關(guān)系，能夠在光照變化下更準確地檢測表面瑕疵。

2. 采用特定的圖像處理方法：

對于非均勻光照下的圖像，可以采用基于空間域的圖像增強方法，如直方圖均衡化和Retinex方法，以及基于頻率域的方法，如低通濾波、高通濾波和同態(tài)濾波等。這些方法可以增強圖像的對比度，提高對瑕疵的識別能力。

3. 考慮環(huán)境因素的影響：

在圖像采集階段，應(yīng)盡可能減少外界因素的干擾，如調(diào)整光照條件、優(yōu)化拍攝角度和距離，以降低光照變化對缺陷檢測精度的影響。還需要考慮噪聲的干擾以及被檢測物體的部分遮擋等問題。

4. 解決反光和倒影問題：

對于高光面產(chǎn)品的瑕疵檢測，需要特別注意反光和倒影問題?？梢圆扇√囟ǖ墓庠春凸鈱W(xué)鏡頭設(shè)計，以減少反光和倒影對成像效果的影響，從而更準確地檢測出零件表面的缺陷。

應(yīng)對表面瑕疵檢測中的光照變化需要綜合考慮多種因素和方法，包括利用先進的技術(shù)手段、優(yōu)化圖像采集條件以及解決特定的成像問題等。