基于圖像灰階差異的原理

這類設(shè)備在檢測薄膜表面瑕疵時(shí)，通常利用瑕疵圖像的灰階與正常產(chǎn)品的灰階存在明顯差異來發(fā)現(xiàn)瑕疵。例如，賽默斐視薄膜表面瑕疵檢測設(shè)備在生產(chǎn)線正常生產(chǎn)時(shí)，高亮的LED線性聚光冷光源采用透射（對于不透明的薄膜產(chǎn)品采用反射）的原理照射在生產(chǎn)線表面，架設(shè)在生產(chǎn)線上的線陣相機(jī)進(jìn)行實(shí)時(shí)同步掃描，然后系統(tǒng)將相機(jī)采集到的薄膜圖像通過SIMV圖像處理單元進(jìn)行瑕疵分割處理，從而發(fā)現(xiàn)瑕疵并對其判定、分類。

精譜測控薄膜表面瑕疵在線檢測儀也是類似原理，由高亮LED組成的線型聚光冷光源采用透射或反射的方式照射在薄膜表面，通過與薄膜運(yùn)行同步的旋轉(zhuǎn)編碼器觸發(fā)線掃描相機(jī)同步掃描，相機(jī)采集到的圖像通過工業(yè)計(jì)算機(jī)上的采集卡實(shí)時(shí)傳送給圖像處理系統(tǒng)軟件進(jìn)行瑕疵識(shí)別處理，因?yàn)殍Υ门c正常圖像的灰階分布存在明顯差異，所以能發(fā)現(xiàn)瑕疵并確定其大小、位置、類型等信息。

借助圖像處理技術(shù)的原理

SIMV機(jī)器視覺檢測系統(tǒng)先利用CCD照相機(jī)對薄膜進(jìn)行拍照并傳輸圖像到計(jì)算機(jī)，然后在計(jì)算機(jī)上利用圖像處理算法對薄膜圖像進(jìn)行去噪、增強(qiáng)和分割等預(yù)處理操作以提取出薄膜瑕疵的特征，接著利用機(jī)器學(xué)習(xí)或者深度學(xué)習(xí)算法對特征進(jìn)行訓(xùn)練建立分類模型，最后對新的薄膜圖像進(jìn)行測試，通過分類模型判斷薄膜瑕疵的類型和程度并給出判定結(jié)果。

二、薄膜瑕疵檢測儀/表面瑕疵檢測設(shè)備的技術(shù)參數(shù)

檢測幅寬

檢測速度

檢測精度

缺陷類型

缺陷標(biāo)識(shí)

歷史記錄

賽默斐視薄膜表面瑕疵檢測設(shè)備

任意幅寬（根據(jù)生產(chǎn)線寬度進(jìn)行定制）

MAX:800m/min

0.1mm*0.1mm

晶點(diǎn)、線條、黑點(diǎn)、蚊蟲、孔洞、劃傷等常見缺陷

自動(dòng)聲光報(bào)警，同時(shí)在系統(tǒng)界面顯示當(dāng)前缺陷的具體圖像及信息

記錄每一卷薄膜缺陷的總數(shù)，分布的位置、大小、面積等信息

精譜測控薄膜表面瑕疵在線檢測儀

任意幅寬（根據(jù)生產(chǎn)線寬度進(jìn)行定制）

MAX:每分鐘600m

0.1mm乘以0.1mm

能檢測分別出直徑0.01mm – 2mm的臟污點(diǎn)、條紋、破損、邊緣裂縫、皺折、暗斑、亮斑、邊緣破損、黑點(diǎn)疵點(diǎn)、毛發(fā)，蚊蟲等常見表面缺陷

自動(dòng)聲光報(bào)警，同時(shí)在系統(tǒng)界面顯示當(dāng)前缺陷的具體圖像及信息

記錄每一卷薄膜缺陷的總數(shù)，分布的位置、大小、面積等信息

三、薄膜瑕疵檢測儀/表面瑕疵檢測設(shè)備的功能

瑕疵定位與顯示功能

精譜測控薄膜表面瑕疵在線檢測儀具有精確的瑕疵坐標(biāo)(X，Y坐標(biāo))定位及顯示功能，并且可以自動(dòng)聲光報(bào)警，顯示當(dāng)前及前后10個(gè)瑕疵圖像，還能實(shí)時(shí)瑕疵標(biāo)定，記錄瑕疵直徑、坐標(biāo)、類型等信息。

賽默斐視薄膜表面瑕疵檢測設(shè)備有豐富的軟件功能，系統(tǒng)在檢測區(qū)域可按列分區(qū)，能提供精確的瑕疵坐標(biāo)分布圖，顯示當(dāng)期及前后多個(gè)瑕疵具體圖像，還能實(shí)時(shí)展示瑕疵信息，記錄當(dāng)前瑕疵的類型、面積(直徑)、橫縱向位置等信息。

生產(chǎn)數(shù)據(jù)記錄功能

賽默斐視薄膜表面瑕疵檢測設(shè)備可記錄每一卷薄膜缺陷的總數(shù)，分布的位置、大小、面積等信息。

精譜測控薄膜表面瑕疵在線檢測儀也能自動(dòng)生成每一卷產(chǎn)品的產(chǎn)品瑕疵記錄，用戶可根據(jù)批次號(hào)直接查詢。

瑕疵分類功能

精譜測控薄膜表面瑕疵在線檢測儀可根據(jù)瑕疵形狀、面積大小、灰度差異等特征實(shí)現(xiàn)瑕疵自動(dòng)分類。